Single Wafer Clean

单晶圆清洗的清洗过程是在室温下重复利用 DI-03/DHE 清洗液进行的,臭氧化的 DI水(DI-03)用来产生氧化硅,稀释的 HF 用来蚀刻氧化硅,同时清除颗粒和金属污染物。根据蚀刻和氧化的要求,采用较短的喷淋时间就可获得较好的清洗效果,不会发生交叉污染。最后冲洗可采用 DI水或采用臭氧化的 DI水。为了避免水渍,采用浓缩了大量氮气的异丙基乙醇 (IPA) 进行干燥处理。单晶圆清洗具有比改良的 RCA 清洗更好的清洗效果,清洗过程中通过采用 DI水及 HF 的再循环利用,降低了化学品的消耗量,提高了晶圆成本效益。

工艺问答

去胶过程中硫酸和双氧水的配比是多少?

配比:H2SO4:H2O2=3:1 温度:140℃ 流程:1槽5分钟→溢流5分钟→2槽5分钟→冲水10次→甩干

晶圆片污染物主要有哪些?

根据污染物发生的情况,大致可将污染物分为颗粒、有机物、金属污染物及氧化物。

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